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太陽能教學設備關于硅材料電學性能的測試項目

點擊次數(shù):1558更新時間:2016-02-25
   太陽能教學設備功能配置完善,模塊化設計,以各實驗臺為單元靈活組配。太陽能教學設備實用價值強,整個實訓裝置的各個部分是*獨立的,學生在實訓過程中可*根據(jù)自己對太陽能光熱系統(tǒng)應用的理解自己動手連接。

  太陽能教學設備可以用于硅材料檢測的一些實訓項目,可以用于一些硅材料技術(shù)、光伏材料加工及應用技術(shù)專業(yè),太陽能教學設備設計精密,可以根據(jù)常用的一些測試項目,進行一些硅片或相關制品的電學性能測試,一般關于硅材料的實訓項目有:

  一、導電性能測試

  太陽能教學設備進行導電性能測試的原理是:通過半導體與冷、熱探筆接觸后,由于載流子的熱運動與溫度有關,熱區(qū)的載流子熱運動速度大,冷區(qū)熱運動速度小,因此在冷、熱兩端形成空穴或自由電子的濃度差,從而產(chǎn)生溫差電動勢來測量。

  二、少子壽命的測試

  太陽能教學實驗臺采用電脈沖以及光脈沖的方法,從半導體內(nèi)激發(fā)非平衡載流子,調(diào)節(jié)了半導體的體電阻,電導率增加,樣品的電阻減小,因此樣品上流過的高頻電流的幅值增加,通過測量體電阻或串聯(lián)電阻兩端電壓的變化規(guī)律來觀察半導體材料中的非平衡少數(shù)載流子的衰減規(guī)律,從而測定其壽命。

  三、進行四探針法測試硅單晶電阻率

  四探針法用針距約為1mm的四根探針同時壓在硅單晶樣品的平整表面上,利用恒流源給外面兩根探針通以電流,然后在中間兩根探針上用電位差計測量電壓降,然后根據(jù)推導簡化 公式,其中四根探針排列在同一條直線上,間距相等,此時探針系數(shù)就是一個常數(shù)。在實際測量工作中,為了計算方便,常常令電流I在數(shù)值上與探針系數(shù)C相等,即I=C,于是ρ=V23,此時探針2與3之間測得電位差在數(shù)值上就等于樣品的電阻率。

  太陽能教學設備不僅僅可以用于硅材料檢測的實訓項目,其他實訓項目如果您有興趣了解,咨詢上海上益。

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